Dit is een bestand van Wikimedia Commons. Onderstaande beschrijving komt van de beschrijving van het bestand daar. Commons is een vrij-gelicenceerde database voor afbeeldingen, geluid, video en andere bestanden.
Beschrijving
Diffraction line broadening analysis if broadening is caused by both dislocations and limited crystallite size
()
Auteur
Kamminga, J.D.
Seijbel, L.J.
Titel
Diffraction line broadening analysis if broadening is caused by both dislocations and limited crystallite size
Deel
109
Uitgever
National Institute of Standards and Technology
Beschrijving
Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology
Subjects: nickel; crystallite size; diffraction line broadening; dislocations
Taal
Engels
Datum van uitgave
januari 2004
Huidige locatie
IA Collections: NISTJournalofResearch; NISTresearchlibrary; fedlink; americana
The Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology is a publication of the U.S. Government. The papers are in the public domain and are not subject to copyright in the United States. However, please pay special attention to the individual works to make sure there are no copyright restrictions indicated. Individual works may require securing other permissions from the original copyright holder.
Licentie
Public domainPublic domainfalsefalse
Dit werk bevindt zich in het publieke domein in de Verenigde Staten omdat het is vervaardigd door een ambtenaar van de Amerikaanse federale overheid tijdens de uitoefening van zijn functie, en het daarmee volgens Titel 17, Hoofdstuk 1, Sectie 105 van de United States Code [Engelstalige link] een werk van de Amerikaanse federale overheid [Engelstalige link] is.Nota bene: Het bovenstaande is alleen van toepassing op werken van de federale overheid of een van haar onderdelen, en niet op werken van een afzonderlijk(e) Staat, Territorium, Commonwealth, County, Gemeente, of enig andere bestuurlijke eenheid. Dit sjabloon is ook niet van toepassing op ontwerpen voor postzegels, door de United States Postal Service openbaar gemaakt sinds 1978 [Engelstalige link]. Zie Art. 206.02(b) van "Compendium II: Copyright Office Practices" (Engelstalig).
FEDLINK - United States Federal Collection jresv109n1p65 (User talk:Fæ/IA books#Fork8) (batch 1993-2020 #20041)
Bestandsgebruik
Geen enkele pagina gebruikt dit bestand.
Metadata
Dit bestand bevat aanvullende gegevens, die waarschijnlijk door een fotocamera, scanner of fotobewerkingsprogramma toegevoegd zijn.
Als het bestand is aangepast, komen sommige details mogelijk niet overeen met het gewijzigde bestand.
Korte naam
Diffraction line broadening analysis if broadening is caused by both dislocations and limited crystallite size
Omschrijving afbeelding
The determination of dislocation distribution parameters is discussed for specimens where both strain broadening caused by dislocations and size broadening occur. If the strain broadening is well described by a model due to Wilkens, several methods are possible for the analysis of the broadening of diffraction lines. In sputter deposited nickel layers, three different methods for diffraction line broadening analysis yield identical results. The recrystallization of the nickel layers was investigated by annealing the layers at various temperatures in the range 300 K to 500 K. With increasing annealing temperature, the microstructure of the layers changed from a microstructure with small grains and high dislocation density, via a microstructure that is a mixture of small grains with high dislocation density and large grains with low dislocation density, to a microstructure with large grains and low dislocation density.